宁波瑞柯微智能科技有限公司
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产品分类
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供应产品
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四探针电阻率/方阻测试仪FT-333 广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试 四探针电阻率/方阻测试仪FT-333 |
2024-04-28 |
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FT-03A 膏体/粉体电阻率测定装置 FT-03A膏体/粉体电阻率测定装置，FT-03A膏体/粉体电阻率测定装置本装置适用于膏体材料、缘粉末、颗粒物及其他相关特性物料电阻测量辅助装置，将被测样品装入到固定容积的聚四氟乙烯材料模具腔内，将测量电放入模 |
2024-04-28 |
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普通四探针电阻率/方阻测试仪 FT-334普通四探针电阻率/方阻测试仪，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准， |
2024-04-28 |
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FT-8200 双电四探针粉末电阻率测试仪 双电四探针粉末电阻率测试仪 一、功能概述：Functional overview大量程方阻测量范围、zui小测量到-5次方或-6次方，采用集成电路模块；智能一体化结构设计，整体大方， USB，232通讯接口，高精恒直流恒流源 ，提供四探针法和四端法两种测量模式并存， 全程采用PC软件操作，自动测试过程数据曲线及图谱分析，实时分析压 |
2024-04-28 |
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FT-342双电测电四探针电阻率/方阻测试仪 FT-342双电测电四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转 |
2024-04-28 |
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FT-361超低阻双电四探针测试仪 FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，zui小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的zui小值，采用AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的 |
2024-04-28 |
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FT-303C 液体电阻率测试仪 液体电阻率测试仪 一、 概述：缘材料存在的状态有固态规则形状如（长方体，圆柱体等是固有形状）及不规则状态（如粉末状,膏体状，液态流动状），目前对缘体材料的测试方法和测量方式基本上是采用三环电结构测量规则形状体 |
2024-04-28 |
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普通四探针电阻率测试仪 按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》普通四探针电阻率测试仪 |
2024-04-28 |
