天瑞X射线荧光光谱仪性能

       EDX-1800B能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.

       X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象，适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛。 X射线荧光光谱仪的优点：
 1) 分析速度快。测定用时与测定度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。2) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。3) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。4) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。5) 分析度高。目前含量测定已经达到ppm级别。6) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。