KDK-KDY-2 两探针电阻率测试仪

本公司主营 不锈钢采水器，罐底焊缝真空检测盒，八级空气微生物采样器，涂层测厚仪，土壤粉碎机，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，数显式温度计，气体采样泵，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，一氧化碳二氧化碳检测仪，黏泥含量测试仪，自动电位滴定仪，便携式测温仪，干簧管测试仪，电导率仪，水质分析仪，土壤氧化还原电位计，数字测温仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，余氯检测仪，颗粒强度测试仪，高斯计，自动涂膜机，，雨量计，四合一气体分析仪，溶解氧仪，薄层铺板器，温度记录仪，动觉方位仪，菌落计数器，雨量计，毛细吸水时间测定仪，污泥比组测试仪，大气采样器，流速仪，体积电阻率测试仪，照度计，涂布机，老化仪

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1.两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪 （测锗） 型号：KDK-KDY-2

KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面zui大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量度般优于四探针法。

测量温度范围 -20～70℃°C
测量度 ±0.7℃,5%
用户自定义参数 << 参数名 参数值
记录数据 7943个测量数据
通道数 2个(温度/湿度)
湿度量程 25-95%
电池寿命 1年
采样间隔 0.5秒-9小时，可选
温度标定标准 NIST温度度标定

产品概述 << 温度传感器可外置，温度可达-40-120℃,可换湿度传感器.
非易失存储器，可掉电保存.
连续记录或存满停止，可延时记录
可选用HOBO Shuttle数据读出器