8753D 网络分析仪

HP8753D覆盖了30KHz-3GHz\\6GHz的频率范围,内置S-参数测试仪。在测试领域中获得了广泛的应用。HP8753D可选时域和扫描谐波测量HP8753D具有频率偏置功能的混频器测试HP8753D可选步进衰减器

是一家专业从事微波电子射频和光纤通讯测试仪器销售，维修，租赁，校准，回购及测试方案提供的“一站式”测试仪器技术服务公司。
我们主要经营安捷伦(Agilent)，泰克(Tektronix)，福禄克(Fluke)，安立(Anritsu)，美国国家仪器（National Instruments）等品牌的频谱分析仪、网络分析仪、综合测试仪等电子测试测量仪器以及含误码仪、光谱分析仪，可调光源，波长计等在内的光纤通信测试仪器设备。
并且，我们同泰克(Tektronix)，福禄克(Fluke)，美国国家仪器(National Instruments)等保持着长期的战略合作伙伴关系。
同时，我们有美国A2LA实验室资质的校准技术，能够为您提供最专业的仪器校准服务！
根据我国仪器仪表市场的具体需求状况和国际国内仪器行业的发展趋势，瑞普高精选出一些技术先进、质量可靠的测试测量仪器用于销售和租赁，已受到多方用户的认可和依赖。

产品详细介绍

详细说明

HP8753D覆盖了30KHz-3GHz\6GHz的频率范围,内置S-参数测试仪。在测试领域中获得了广泛的应用。HP8753D可选时域和扫描谐波测量HP8753D具有频率偏置功能的混频器测试HP8753D可选步进衰减器

HP8753D可用于全部正向和反向测量的内装S-参数测试装置，使您能通过一次连接评测射频元件优异的精度，经过的校准可选时域和扫描谐波测量用频率偏置能力作混频器测试HP8753D可选步进衰减器，以扩展源输出功率范围通过/失败测试，内插误差校正，测试序列和用户定义测试频率，以提高生产能力2个的显示通道，HP8753D可以以同时测量反射和传输特性

技术指标摘要 测试装置 集成化S参数测试装置以50Ω(标准)或75Ω(选件075)提供完满的正向和反向测量。外部测试装置由选件011提供。 测试端口输出 频率特性 范围： 30kHz~3GHz(标准)；30kHz~6GHz（选件006） 分辨率：1Hz 精度：±10ppm(在25℃±5℃时)

HP8753D射频网络分析仪 HP8753D 射频网络分析仪以低廉的价格为实验室和生产测试提供了优越的RF网络测量设备。它具有集成化的S参数测试装置，延长了校准间隔期、提高了可靠性并改善了抗静电放电能力。HP 8753D以比以往其它型号的测试设备更低的价格为分析30kHz~6GHz的有源或无源网络、器件与元件特性提供了完整的解决途径。 网络分析仪有2个的显示通道，供同时显示反射和传输、幅度和相位或供时域和扫频测量。便于使用的预编程按键使你能迅速访问各个测量功能，你可以在高分辨率彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。 的通用性和性能 集成化的合成信号源提供达10mW的输出功率(选件011为100mW)、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表和连续波扫描类型。三个调谐接收机允许在6GHz上(利用选件006频率扩展)，在105dB的宽动态范围或在3GHz上在100dB的宽动态范围内(标准情况)进行功率测量或同时进行的比值测量。集成化测试装置允许在不使用倍频器的情况下，对工作到6GHz的器件进行传输和反射特性测量。 为了在非同轴系统中进行方便而的测量，特增加了TRLLRM*1校准。高稳定度的频率基准(选件1D5)提高了对高Q器件，如表面波(SAW)谐振腔或介质谐振滤波器的频率测量精度。 提率 测试时序功能允许一次来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量一次，分析仪便能储存键入，以致无需额外编程，还可以利用测试时序经并行端口对外部装置进行控制。 另一些提率的措施包括支持LIF和DOS格式的内置磁盘驱动器、更快的CPU时钟速率、512kB非易失存储器、串行和并行接口，DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。 非线性器件的测试 为了表征非线性器件的特性，选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以dBc 显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。按动一个按钮，即可测量达-40dBc的谐波。功率计校准向对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。HP8753D自动对HP436A、437B或438A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。 时域分析 利用选件010，能观察在时域中的响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换(FFT)进行计算，以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方式能观察器件的阶跃响应或冲击响应或除去一些不希望的响应，如利用选通来除去接头失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-传输线和传输线-反射-匹配校准技术的三取样器执行方式。

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备注：

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