BMCS-20 薄膜材料参数测试系统

BMCS-200型薄膜材料参数测试系统关键词：薄膜介电，，200度 测试主机 薄膜测试平台BMCS-200型薄膜材料参数测试系统应用于高低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析，通过配置不同的测试设备，完成不同参数的测试。是一代高低温电阻系统，性能优越，完全科研级别的测试装置，

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

BMCS-200型薄膜材料参数测试系统

关键词：薄膜介电，，200度

    

     测试主机                      薄膜测试平台

BMCS-200型薄膜材料参数测试系统应用于高低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析，通过配置不同的测试设备，完成不同参数的测试。是一代高低温电阻系统，性能优越，完全科研级别的测试装置，是科研院所和高等学府的设备。

一、主要用途：

1、测量以下参数随温度（T）、频率（f）、电平（V）、偏压（Vi）的变化规律：

2、测量电容（C）、电感（L）、电阻（R）、电抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、电导（G）、电纳（B）、导纳（Y）、损耗因子（D）、品质因素（Q）等参数，

3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数（εr）和介质损耗（D）参数。

4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能

5、测试聚合物压电薄膜的谐振频率、谐振阻抗、电容、频率响应曲线等参数。

二、主要技术参数：

1、温度范围      室温-200℃

2、测温精度      0.1℃

3、升温速度      1—20。C/min

4、控温模式      程序控制，提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式

5、通讯接口      RS-485/232

7、测试频率      20Hz~1MHz

8、电材质      银合金电

9、测量精度：0.1%；

10、保护电    带保护电，消除寄生电容、边界电容对测试的影响

11、电干扰屏蔽   电引线带同轴屏蔽，样品平台带屏蔽罩

12、软件功能：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件

13、测量方案    提供灵活、丰富的测试设置功能，包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合

15、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

16、净   重          22KG

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