31W一米平面光栅摄谱仪

31W一米平面光栅摄谱仪利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象...

31W一米平面光栅摄谱仪

一．用途：
31W一米平面光栅摄谱仪是本公司生产的经典产品。本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。
二.仪器特点：
1．光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，彗差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀，灵敏度高。
2．仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
3．仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九价减光板。
4．适用控制箱控制谱过程。
5．仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
6．仪器配置工作台，安装和操作方便。
7．在预处理阶段的铁样品的标准波长处谱线清新。
8．中心波长显示实现UI界面与人机互动。
9．采用高精密度的丝杆和光栅调节中心波长。
10．仪器采用全数字控制，可以实现相板移动自动化。
11．仪器实现全数显化，可直接显示预燃、曝光、板移的时间和中心波长。

三．规格：
工作波段： 200nm～850nm
摄谱仪焦距： F=1050mm
相对孔径： A=1:22
狭缝主要技术指标： 宽度范围0.002～0.3mm；宽度分度值0.001mm
有效高度10㎜宽度再现性0.001mm
波长显示： 计数器(nm)
光栅： 1200条/mm光栅1块
外形尺寸： 长×宽×高1300×1500（包括导轨在内）×600mm
重量： 100kg
工作电源： 380V 50Hz 20A； 220V 50Hz 20A

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