EDX600PLUS 膜厚测试仪

膜厚测试仪是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光镀层厚度测量技术经验，zhuan门研发的下照式结构的镀层测厚仪。...

膜厚测试仪
江苏天瑞膜厚测试仪采用Jin口的高功率高压单元搭配微焦斑的X光管，准确解析不同元素，对多镀层与复杂合金镀层的准确测量，准直器它可以搭配的准直器geng小：0.1*0.3mm;φ0.2mm;φ0.3mm;φ0.5mm等等。用chao小的准直器得到的chao小光斑，让geng小样品的测量也变得游刃有余。

膜厚测试仪测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行jing准检测。
膜厚测试仪设计亮点：

新的下照式设计，一键式的按钮，减少摆放样品时间。

新的光路系统，减少了光斑的扩散，实现了对geng小产品的测试。

搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的jing准测试。

膜厚测试仪技术参数

膜厚测试仪检测实例

膜厚测试仪应用：

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