HUSTEC-1600A-MT 半导体测试仪器

华科智源半导体测试仪器，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，测试1600A，5000V以下的各种功率器件，广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。

深圳市华科智源科技有限公司，是一家专业从事仪器仪表代理的综合性服务公司,于2010年在深圳注册成立，目前已经成为国内的仪器经销商，系统集成商和综合服务商之一。 深圳市华科智源科技有限公司的客户涉及工业电子制造、通信及信息技术、教育科研、航空航天、微电子、新能源、生物医药、节能环保等行业和领域，通过与、Agilent、Lecroy、Tektronix、Yokogawa、Kikusui、DTV、NF、费思泰克Faith、牛津OXFORD、岛津SHIMADZU等知名厂商的合作，为客户提供产品增值销售、应用系统集成、科技租赁、计量校准、维修维护等综合服务。 深圳市华科智源科技有限公司，,主要研发生产的设备有SMT首件检测仪，首件检测系统，SMT首件测试仪，ITC57300,半导体动态参数测试仪，ITC55100等高端测试产品及测试系统。 深圳市华科智源科技有限公司一贯坚持“可靠的产品，优质的服务”的经营方针，结合市场变化和客户要求，华科智源致力于同客户建立长期的合作伙伴关系，为客户提供“需求分析、产品选型、人员培训和售后服务”等一条龙完善服务，赢得了生产厂商和用户的广泛好评。 深圳市华科智源科技有限公司将秉持迅速、可靠、专业的态度永续经营，以提供实时有效的服务为终目标。

HUSTEC华科智源

HUSTEC-1600A-MT

半导体测试仪器

   

一：半导体测试仪器主要特点

华科智源HUSTEC-1600A-MT静态测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试600A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；

 

半导体测试仪器测试参数：

ICES  集电极-发射极漏电流

IGESF 正向栅极漏电流

IGESR 反向栅极漏电流

BVCES 集电极-发射极击穿电压

VGETH 栅极-发射极阈值电压

VCESAT 集电极-发射极饱和电压

ICON 通态电极电流

VGEON 通态栅极电压

VF 二极管正向导通压降

整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用。

 

二：华科智源半导体测试仪器应用范围

A：IGBT单管及模块，

B：大功率场效应管（Mosfet）

C：大功率二极管

D：标准低阻值电阻

E：轨道交通，风力发电，新能源汽车，变频器，焊机等行业筛选以及在线故障检测

 

三、华科智源半导体测试仪器特征：

A：测量多种IGBT、MOS管

B：脉冲电流1200A，电压5KV，测试范围广；

C：脉冲宽度 50uS~300uS

D：Vce测量精度2mV

E：Vce测量范围>10V    

F：电脑图形显示界面

G：智能保护被测量器件

H：上位机携带数据库功能

I：MOS IGBT内部二极管压降

J : 一次测试IGBT全部静态参数

K: 生成测试曲线（IV曲线直观看到IGBT特性，可以做失效分析以及故障定位）

L:可以进行不同曲线的对比，观测同一批次产品的曲线状态，或者不同厂家同一规格参数的曲线对比；

 

序号	测试项目	描述	测量范围	分辨率	精度
1	VF	二极管正向导通压降	0~20V	1mV	±1%,±1mV
2	IF	二极管正向导通电流	0~1200A	≤200A时,0.1A	≤200A时,±1%±0.1A
3				＞200A时,1A	＞200A时,±1%
4	Vces	集电极-发射极电压	0~5000V	1V	±1%,±1V
5	Ic	通态集电极电流	0~1200A	≤200A时,0.1A	≤200A时,±1%±0.1A
6				＞200A时,1A	＞200A时,±1%
7	Ices	集电极-发射极漏电流	0~50mA	1nA	±1%,±10μA
8	Vgeth	栅极-发射极阈值电压	0~20V	1mV	±1%,±1mV
9	Vcesat	集电极-发射极饱和电压	0~20V	1mV	±1%,±1mV
10	Igesf	正向栅极漏电流	0~10uA	1nA	±2%,±1nA
11	Igesr	反向栅极漏电流
12	Vges	栅极发射极电压	0~40V	1mV	±1%,±1mV

 

 

 

 

 

 

 

测试参数：

ICES  集电极-发射极漏电流

IGESF 正向栅极漏电流

IGESR 反向栅极漏电流

BVCES 集电极-发射极击穿电压

VGETH 栅极-发射极阈值电压

VCESAT 集电极-发射极饱和电压

ICON 通态电极电流

VGEON 通态栅极电压

VF 二极管正向导通压降

IGBT静态参数测试仪整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用

 

1) 物理规格

设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm；

质量：30kg

2) 环境要求

海拔高度：海拔不超过 1000m；

储存环境：-20℃～50℃；

工作环境：15℃～40℃。

相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；

大气压力：86Kpa～ 106Kpa。

防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；

3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%；

电网频率：50Hz±1Hz

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